按鍵壽命試驗

按鍵壽命試驗目的：

1.制定規(guī)范的操作指引，提供試驗人員進行按鍵壽命試驗

2.模擬用戶日常使用電話的情形，試驗在不同部位的按鍵壽命情況

按鍵壽命試驗范圍：

適用于所有電話機成品(除客戶特殊要求外)以及物料

參考文件：

WQA9151-- Reliability Test Items for North American Vtech and AT&T Brand Products.

WQA9152-- Reliability Test Items for Vtech Europe Products.

定義：無

責任：

試驗申請者提供試驗功能正常的樣品，并填寫試驗申請單

實驗室負責人負責完成所有的可靠性測試，并以E-Mail形式將試驗結果通知Project Leader和申請者，試驗完畢后發(fā)出的正式的報告，并將樣品退還申請人

對于Failure的項目，實驗室負責人要在當天內(nèi)通知相關負責人員，并協(xié)助分析Fail的原因

相關部門在必要時提供改善行動，并且送改善后的Sample到實驗室，重做測試，以確認改善行動是否有效

程序：

沖頭的調(diào)校及安裝(按鍵壽命測試)

逐一調(diào)校沖頭上的彈簧行程，用彈力計測量,使之符合按壓距離 3.0±0.2mm時壓力為450~600g

將調(diào)校好的沖頭正確地安裝在沖壓機上

做按鍵壽命試驗，VTECH標準要求如下：

機械壽命次數(shù)：試驗過程中需每一萬次停下來檢查一次，如有問題需詳細記錄

試驗要求：

試驗中和試驗后按鍵功能正常

試驗中和試驗后按鍵有任何的機械損壞都是不可以接受的

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