很多產(chǎn)品在實(shí)驗(yàn)室里“開(kāi)機(jī)即亮”，在用戶手中卻“用久就崩”。
為什么？
因?yàn)?strong>短時(shí)功能測(cè)試 ≠ 長(zhǎng)期可靠運(yùn)行。

而負(fù)載耐久測(cè)試（Load Endurance Test），正是模擬產(chǎn)品在真實(shí)使用負(fù)載下長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)工作的狀態(tài)，提前暴露因熱積累、材料老化、機(jī)械磨損、電氣漂移導(dǎo)致的潛在失效。

今天，就帶你深入這項(xiàng)“時(shí)間+壓力”雙重考驗(yàn)的可靠性驗(yàn)證——它不追求瞬間極限，而是檢驗(yàn)產(chǎn)品能否在日復(fù)一日的高負(fù)荷中，始終如一。

一、什么是負(fù)載耐久測(cè)試？

負(fù)載耐久測(cè)試 = 施加典型或極限工作負(fù)載 + 長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)運(yùn)行 + 環(huán)境應(yīng)力疊加。

核心目標(biāo)：
驗(yàn)證產(chǎn)品在預(yù)期壽命內(nèi)，關(guān)鍵性能不退化、結(jié)構(gòu)不失效、安全不妥協(xié)。

與常規(guī)功能測(cè)試的區(qū)別：

• 功能測(cè)試：驗(yàn)證“能不能用”；

• 負(fù)載耐久測(cè)試：驗(yàn)證“能用多久、用得穩(wěn)不穩(wěn)”。

二、為什么必須做負(fù)載耐久測(cè)試？

真實(shí)世界中的“慢性殺手”：

三、負(fù)載耐久測(cè)試怎么做？關(guān)鍵要素

1. 負(fù)載設(shè)定

• 典型負(fù)載：模擬用戶日常使用（如手機(jī)邊充邊玩）；

• 極限負(fù)載：100%滿負(fù)荷（如服務(wù)器CPU 100%占用、電源輸出最大功率）；

• 動(dòng)態(tài)負(fù)載：模擬真實(shí)波動(dòng)（如電動(dòng)車加速/剎車時(shí)的電流變化）。

2. 測(cè)試時(shí)長(zhǎng)

3. 環(huán)境組合

• 高溫負(fù)載：如+50℃下滿載運(yùn)行（模擬密閉空間）；

• 高低溫循環(huán)+負(fù)載：驗(yàn)證熱疲勞下的電氣穩(wěn)定性；

• 濕度+負(fù)載：考察濕熱環(huán)境下的絕緣性能。

4. 監(jiān)測(cè)指標(biāo)

• 溫度：關(guān)鍵點(diǎn)溫升（如MOSFET、電池表面）；

• 電氣參數(shù)：輸出電壓精度、紋波、效率；

• 功能表現(xiàn)：通信穩(wěn)定性、響應(yīng)延遲、誤碼率；

• 外觀檢查：鼓包、變色、異味、異響。

合格判定：

• 無(wú)安全風(fēng)險(xiǎn)（不起火、不冒煙）；

• 性能衰減 ≤ 規(guī)格書(shū)限值（如效率下降 <5%）；

• 功能全程正常。

四、行業(yè)典型應(yīng)用場(chǎng)景

消費(fèi)電子（手機(jī)/充電器/耳機(jī)）

• 測(cè)試：邊玩游戲邊快充 × 72小時(shí)；

• 關(guān)注：電池溫升、充電IC穩(wěn)定性、外殼變形。

新能源汽車（OBC、DC-DC、BMS）

• 測(cè)試：40℃環(huán)境下持續(xù)10kW輸出 × 1000小時(shí)；

• 關(guān)注：功率器件結(jié)溫、電容壽命、CAN通信可靠性。

工業(yè)電源/PLC

• 測(cè)試：滿載 + 50℃ × 2000小時(shí)；

• 關(guān)注：MTBF驗(yàn)證、風(fēng)扇壽命、繼電器觸點(diǎn)磨損。

服務(wù)器/數(shù)據(jù)中心設(shè)備

• 測(cè)試：CPU/GPU 100%負(fù)載 + 高溫 × 168小時(shí)；

• 關(guān)注：散熱系統(tǒng)效能、內(nèi)存ECC錯(cuò)誤率、硬盤(pán)SMART數(shù)據(jù)。

五、常見(jiàn)失效模式與根因分析